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梅特勒托利多-分析天平

梅特勒托利多-分析天平

型    号: XS系列
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梅特勒托利多-分析天平采用分离的称量单元和显示控制单元,避免电子元件散热对称量结果准确性的影响,丰富的内置称量应用程序:基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、动态称量。

  • 产品描述

梅特勒托利多-分析天平技术参数:

型号

zui大称量值

[g]

可读性

[mg]

重复性(sd)

[mg]

线性误差

[mg]

典型稳定时间

[s]

秤盘尺寸

(W×D)[mm]

XS105DU41/1200.01/0.10.02/0.10.24/1.578×73
XS205DU81/2200.01/0.10.02/0.10.24/1.578×73
XS64610.10.10.21.578×73
XS1041200.10.10.21.578×73
XS2042200.10.10.21.578×73
XS204DR81/2200.1/10.1/0.70.53.5/1.578×73

DR=变量程;DU=双量程;sd=标准偏差

 

梅特勒托利多-分析天平性能特点:

  • 采用分离的称量单元和显示控制单元,避免电子元件散热对称量结果准确性的影响

  • 优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求

  • *可拆卸、清洗的内部和外部玻璃防风罩设计,实现天平的快速清洁

  • 丰富的内置称量应用程序:基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、动态称量

  • GWPExcellenceTM一体化安全功能,确保天平始终正确工作

  • 触摸屏(TouchScreen):背亮式触摸屏是天平操作更加快速简便。中文界面和图符显示的用户操作指南清晰易懂,帮助您有效节省操作时间。

  • 网格秤盘(SmartGird):有效降低称量室中气流对称量的影响,从而缩短稳定时间。称量过程中如果出现差错,样品会直接散落在网格秤盘(SmartGird)下的金属底盘上,因而不会影响称量结果,且不浪费您的样品。

     


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