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解读国标,一文理清顺序扫描和全谱直读ICP-OES

更新时间:2025-11-03点击次数:45

近期小编发现有从事稀土分析的老师就《GB/T 17417.1 - 2010稀土矿石化学分析方法 第1部分:稀土分量测定》和《GB/T 17417.2 - 2010稀土矿石化学分析方法 第2部分:钪量测定》两份标准中,提到的顺序扫描型电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP - OES),咨询如何区分ICP - OES的类型。

国标解读背景


随着科技的进步,大量商品化的电感耦合等离子体发射光谱仪呈现百花齐放的技术发展路线。今天和大家一起解读《GB/T36244 - 2018电感耦合等离子体原子发射光谱仪》,了解在国标体系中ICP - OES的分类。

《GB/T36244 - 2018电感耦合等离子体原子发射光谱仪》该标准是2018年11月1日生效的,该标准旨在规定电感耦合等离子体原子发射光谱仪的定义、组成和分类、要求、试验方法等。而前文提到的两个稀土矿石化学分析方法均在2011年2月1日实施,且旨在提供行业的分析方法。

因此GB/T36244 - 2018对于ICP - OES的分类更具性,且发布时间更新,更能真实的反应现在商品化ICP - OES的技术。那么我们来详细解读该标准。

ICP - OES的组成与分类依据


仪器由进样系统,激发光源、色散系统、控制与检测系统和数据处理系统组成。该标准从仪器不同的维度进行分类。


顺序扫描电感耦合等离子体原子发射光谱仪定义

从色散元件(如棱镜、光栅等)的状态,“顺序扫描电感耦合等离子体原子发射光谱仪"的定义是:通过旋转色散元件得到谱线的仪器。

全谱直读电感耦合等离子体原子发射光谱仪定义

从检测器的角度,“全谱直读电感耦合等离子体原子发射光谱仪"的定义是:通过CCD、CID、CMOS等阵列式检测器一次性读取光谱的仪器。

可以清晰地看到,两种分类是根据ICP - OES不同的部件进行的。

耶拿Plasma Quant 9100Elite的特性

耶拿超高分辨率Plasma Quant 9100Elite的光学系统由棱镜 + 中阶梯光栅构成两级色散,在分析过程中,中阶梯光栅发生转动,符合“顺序扫描电感耦合等离子体原子发射光谱仪"的定义;同时仪器配置高灵敏度的CCD阵列检测器,快速获取样品谱图,符合“全谱直读电感耦合等离子体原子发射光谱仪"的定义。

因此Plasma Quant 9100Elite符合《GB/T 17417.1 - 2010稀土矿石化学分析方法 第1部分:稀土分量测定》和《GB/T 17417.2 - 2010稀土矿石化学分析方法 第2部分:钪量测定》的要求。

仪器性能与国标要求对比

此时客户又提出担心,分析过程中光栅转动是否会影响仪器的重复性?国标GB/T36244 - 2018中要求仪器重复性≤1.5%、稳定性≤2.0%(间隔15分钟,重复9次测量)。Plasma Quant 9100Elite这两项的性能分别为≤0.3%、≤1.0%(7小时),位于行业水平,远远优于国标要求。

Plasma Quant 9100Elite的优势

作为新一代技术的突出代表,Plasma Quant 9100Elite将两种科技有机结合,平衡了光学分辨率与分析速度,提供的光学分辨率3pm@200nm。此外仪器还具有极优异的稳定性。在稀土分析中实现“又快又准又稳"的效果。

 

分辨率举例

重复性 (1ppm):≤0.3%

稳定性(7Hr):≤1%



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