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应用案例 | 水份会导致PCB板爆板失效?TGA联用技术告诉你答案

更新时间:2025-11-12点击次数:53

印刷电路板 PCB可为电子组件提供机械支撑,它可将电子元器件固定在指定位置并进行电气连接。几乎所有类型的电子设备都使用 PCB。PCB是一种复合材料,通过在压力条件下将支撑材料(玻璃纤维布)与基体(粘合剂:可固化的塑料、环氧树脂等)一同成型的方式制成,外层由层压在非导电基材上的薄铜箔组成。绝缘材料一般由浸在环氧树脂(FR4、FR5) 中的玻璃纤维布组成,采用溴化物(四溴双酚 A)作为阻燃剂 [1]。

实际上,除了电气特性(例如:漏电流、绝缘电阻、介电常数)之外,PCB 的热属性也非常重要。热属性包括印刷电路板聚合物基体的玻璃化转变温度(它可以确定印刷电路板的最高可用温度)、与印刷电路板垂直处的 CTE 以及不同温度 (260 °C, 288 °C, 300 °C; T260, T288, T300) 下的爆板时间。在文献中,有时会声称 PCB 爆板是由于印刷电路板内存在水份所致。我们通过 TGA联用Micro GC/MS 的方法对这种情况是否属实进行了研究。


实验细节

利用 TMA 在不同温度下测量了PCB 的爆板时间,以 10 K/min 的速率将样品加热至等温测量温度,然后保持此温度,直至观察到爆板。根据 IPC-TM-650 标准中给出的指南制备样品(在 105 °C 下干燥 2 小时,在干燥器内中冷却)。用于实验的 TMA/SDTA 2+ 预先根据参考文献中描述的等温测量程序进行了校正和校准。同时还使用TGA/DSC3和Micro GC/MS,以 10 K/min 的加热速率,按照用于 TMA 测量的方法对PCB样品进行了动态测量并监测分解气体的成分。

结果与分析

图 1 中的左图显示了在 288 °C 下测量的 5 个相同测试样品的 TMA 曲线。结果显示,288 °C 下的爆板时间具有 的可重复性 (37.5 ± 0.13 min)。位于该图右上方的图表显示了在不同温度下测量的相同样品的 TMA 曲线,时间轴位使用对数标尺。图右下方的图表显示了 PCB 爆板时间与温度的相关性,结果显示,爆板时间很大程度上取决于温度。

为了验证PCB 爆板和水份挥发是否存在关联,我们进行了TGA/DSC测试,结果见图2,结果显示,PCB分别在N2和O2中的爆板过程都是放热过程,而蒸发是一个吸热过程,因此可以推测二者没有相关性。为了确认这一结果,使用 TGA-Micro GC/MS 对PCB分解时的产生的气体行了分析。

在TGA-Micro GC/MS联用中,Micro GC/MS同时配备三种不同GC模块:MS5A 模块(用于 H2、O2、CO、CH4等气体)、PPU 模块(用于 CO2、C2 和 C3 碳氢化合物、H2O)以及 Sil-5-CB 模块(用于胺类、溶剂、BTEX、醇类、C4–C8 碳氢化合物),且使用质谱仪作为 GC 的 MS 检测器, 这套系统可同时对样品分解气体中的小分子气体、轻质量数气体和中等质量数气体进行全面检测和分析。

对于 TGA-Micro GC/MS 的测量,TGA使用温度程序与TMA 相同,即:以 10 K/min 的速率从室温加热至 288 °C,然后在 288 °C 下恒温保持 100 分钟。图 3左侧显示了测得的 TGA 曲线和相应的 DTG 曲线。在加热阶段可以看到一个失重台阶,在等温阶段可以看到较大的失重台阶。图 3 右侧显示的 Micro GC TCD 色谱图表明,在第一次少量失重期间仅释放了水和少量 CO2 ,在第二个失重步骤中释放了许多不同的气体分解产物,其中包括丙烯、丙酮和各种溴化分解产物,尤其是四溴双酚 A(TBBPA)通常用作环氧基 PCB 中的阻燃剂。

 

结论

在氮气或氧气中测量的爆板时间和吸放热结果类似,这意味着爆板不受氧气的影响。同时还可以将 PCB 中的水份作为爆板的因素排除在外:水份的释放是一个强吸热过程,但爆板是一个放热过程。因此,PCB 爆板是由于 PCB 中聚合物及其添加剂的分解造成的。这同时也在 TGA-Micro GC/MS 实验中得到了证实,样品在升温时会有少量水份的挥发,发生爆板时,除水份之外的其他物质(例如:CO2、丙酮与各种溴化分解产物)也同时出现。因此,如果PCB放在室内导致的少量水分吸附,在爆板测试时可以测到水份的产生,而不是水份导致PCB板的爆板分层。但如果PCB在回流焊过程中因水分急剧汽化或PCB板浸泡在水中吸附大量的水后是否会促进爆板分层,还需另外的湿热老化试验(例如双85测试)来进行验证。



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