梅特勒托利多-分析天平

梅特勒托利多-分析天平技术参数：

型号	量程[g]	可读性[mg]	zui小称量值（USP），典型值[mg]	重复性[mg]	线性误差
XPE 105	120.0	0.01	14.0	0.015	0.1
XPE 204	220.0	0.1	82.0	0.05	0.2
XPE 205DR	120.0	0.01，0.1	14.0	0.015	0.15
XPE 105DR	41.0，220.0	0.01mg/0.1mg	14.0	0.015	0.15
XPE 304	320	0.1 mg	82.0	0.08	0.4

 

梅特勒托利多-分析天平性能特点：

*性能

StaticDetect™ 静电检测和静电消除技术，加上先进的 SmartGrid 网格秤盘为您提供具有重复性的可靠结果。 创新型 StatusLight™ 分析天平就绪指示灯以及利用 TestManager™ 测试管理功能轻松进行日常测试可提高您的质量管理且易于合规。

 

轻松满足法规

StatusLight 状态指示灯使用颜色直观地显示天平的状态：分析天平绿色表示准备就绪，分析天平黄色表示警告，分析天平红色表示错误。 StatusLight 状态指示灯清晰地显示天平是否已准备好开始称量任务。

 

状态指示灯

 分析天平状态指示灯清晰地显示分析天平是否已准备好开始称量任务。分析天平绿色表示天平准备运行，黄色表示天平应通过 TestManager 连接至日常测试，红色表示应对天平失去平衡等错误立即采取纠正措施。 
分析天平触摸屏，可在 Test-Manager™ 嵌入式软件中进行 SOP 测试。分析天平无论何时进行测试，分析天平都会在屏幕上显示消息，您只需遵循分步式指导信息操作即可。

 

zui大限度地减少静电荷

我们的 StaticDetect 静电检测技术可检测样品或其容器上的静电荷。 如果称量错误超过用户定义的限值，则出现警告；然后可以采取防静电措施。 为了获得过程安全性，可锁定称量结果的发布。

 

用户引导过程管理

梅特勒-托利多的 LabX® 实验室软件可在分析天平触摸屏上显示的灵活的 SOP 用户指南。 分析天平利用自动数据处理、计算和报告，具有 LabX 软件的分析天平可以轻松实现过程安全性和可追溯性要求，并支持您实现无纸化实验室。

 

结果可靠

超越系列分析天平将获得的梅特勒-托利多称量技术与数十年的称量专业知识相结合，确保您快速、可靠地获得*的称量结果！

 

无需接触天平的操作

超越系列分析天平采用人体工程学设计，旨在尽量使您的生活变得轻松。 SmartSens™ 红外感应器可使您挥一下手即可进行操作，使称量任务更加轻松，避免交叉污染问题（例如：打开/关闭防风罩门）。

 

易于清洁

分析天平凭借*的网格秤盘和可在数秒钟内拆卸的防风罩，分析天平始终确保称量区域清洁、分析天平安全。

 

基于RFID的操作—滴定仪

现代化移液器有内置的 RFID 芯片，可存储大量信息：移液器 ID、移液器容量、zui后校准日期和下一校准日期等等。 利用新的集成 RFID 阅读器，您可以在几秒钟内进行检查，并在天平终端上查看报告全文 — 快速、无误。

 

基于RFID的操作—滴定

在分析天平上安全地输入滴定样品信息，并将其轻松地通过滴定烧杯和 SmartSample RFID 标签传输至滴定仪。

 

每个数字都重要

在称量催化剂、酶或高价值电子元件时，分析天平可读性是提高准确度的一个重要因素。了解更多有关梅特勒-托利多手动质量比较器如何提高工业应用zui高精确度的信息。

 

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