蔡司Sigma系列产品集场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）技术与良好的用户体验于一体，可轻松实现成像和分析程序，提高工作效率。 您可以将其用于新材料和颗粒的质量监测，或用于生物和地质样品的研究。在高分辨率成像方面精益求精——采用低电压，在1 kV或更低电压下获得更佳的分辨率和衬度。它出色的EDS几何学设计可执行高级显微分析，以两倍的速度和更高的精度获取分析数据。

技术参数：

性能特点：

Sigma 360是一款直观的成像和分析FE-SEM，是分析测试平台的理想之选。

直观成像工作流为您指引方向从设置到获取基于人工智能的结果，每一步都清晰明了即使您是新手用户，也能轻松获得专业结果。Sigma系列可迅速获取图像，易于学习和使用的工作流程可节省培训时间，简化从导航到后期处理的每个步骤，让您如虎添翼。蔡司SmartSEM Touch中的软件自动化可助您完成导航、参数设置和图像采集等步骤。接下来，ZEN core便可大显身手:它配备针对具体任务的工具包，适用于后期处理。我们十分推荐基于机器学习的人工智能工具包，它可助您进行图像分割，将多模式实验与ConnectToolkit相结合，此外，Materials应用程序还能分析微观结构、晶粒尺寸或涂层厚度。

• 从设置到获取基于人工智能的结果，均提供专业向导，为您保驾护航，助您探索直观的成像工作流。

• 可在1 kV和更低电压下分辨差异，实现更高的分辨率和优化的衬度。

• 可在ji端条件下执行可变压力成像，获得出色的非导体成像结果。

Sigma 560采用先进的EDS几何学设计，可提供高通量分析，实现自动原位实验。

对实体样品进行高效分析EDS:通用、高速，助您深入研究Siqma 560的先进EDS几何学设计可提高分析效率。两个180°径向相对的EDS端口确保了即使在低电压小束流条件下，也能实现高通量无阴影元素分布成像。样品仓的附加EBSD和WDS端口不局限于满足EDS分析。不导电样品也可以使用全新的NanovP lite模式进行分析，并能获得更强的信号和更高的衬度。全新的aBSD4探测器可轻松实现表面形貌复杂样品的图像采集

• 高通量分析，原位实验自动化

• 对实体样品进行高效分析：基于SEM的高速和全fang位分析。

• 实现原位实验自动化：无人值守测试的全集成实验室。

• 可在低于1 kV的条件下完成要求严苛的样品成像：采集完整的样品信息。

应用范围：

• 材料科学

探索聚合物、纤维、二硫化钼等材料样品的图像。

• 生命科学

了解更多有关原生动物或真菌的微观和纳米结构信息，获取切面样品或薄片上的超微结构。

• 地球科学与自然资源

探索岩石、矿石和金属。

• 工业应用

了解如何对金属、合金和粉末进行研究。